图片 零件号 制造商 描述 最小起订量 库存 操作
SN74BCT8373ADW Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
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SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
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SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
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SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
现货
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SN74BCT8373ADWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
1
RFQ
8,500
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